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倒置明暗場金相顯微鏡的構(gòu)造及使用

更新時(shí)間:2024-03-11      點(diǎn)擊次數(shù):844
倒置明暗場金相顯微鏡是一種常用于材料分析和金相檢測的顯微鏡。它具有特殊的光學(xué)系統(tǒng),可以讓觀察者從試樣的底部觀察,并通過透射和反射光同時(shí)獲得明場和暗場的圖像。以下是倒置明暗場金相顯微鏡的構(gòu)造及使用方法:  
構(gòu)造:  
光源:通常采用白熾燈或準(zhǔn)直光源作為光源,通過調(diào)節(jié)亮度來控制照明強(qiáng)度。  
物鏡:倒置顯微鏡的物鏡通常具有低倍數(shù)(如5X、10X)和高倍數(shù)(如20X、50X)兩種選擇,以滿足不同放大倍率要求。  
顯示器/眼視管:可以選擇將顯微圖像直接顯示在顯示器上或通過眼視管觀察。  
暗場裝置:該裝置包括一個(gè)偏振片、一個(gè)暗盤以及相關(guān)控制機(jī)構(gòu)。它們可實(shí)現(xiàn)對透射光進(jìn)行抑制,使試樣表面缺陷更加突出。  
使用方法:  
照明調(diào)節(jié):首先打開光源并調(diào)節(jié)照明強(qiáng)度,確保試樣能夠清晰可見。  
調(diào)整焦距:使用調(diào)焦手輪或調(diào)節(jié)桿,將試樣移動(dòng)到物鏡下方,并逐漸調(diào)整焦距,直到試樣圖像清晰可辨。  
切換明場和暗場:通過轉(zhuǎn)動(dòng)暗場裝置上的控制機(jī)構(gòu),可以切換觀察模式。在明場觀察時(shí),關(guān)閉偏振片和暗盤;在暗場觀察時(shí),打開偏振片并調(diào)整暗盤位置以獲得最佳效果。  
觀察與分析:  
調(diào)整放大倍率:根據(jù)需要選擇合適數(shù)量的物鏡,并通過旋轉(zhuǎn)目鏡或更換物鏡來實(shí)現(xiàn)不同放大倍率的觀察。  
掃描試樣表面:使用顯微鏡的移動(dòng)平臺或簡筆畫架等設(shè)備,對試樣進(jìn)行掃描以獲取所需區(qū)域的圖像。  
分析缺陷和結(jié)構(gòu):倒置明暗場金相顯微鏡能夠幫助觀察者發(fā)現(xiàn)樣品中的缺陷、晶粒結(jié)構(gòu)、顆粒分布等信息,并用于材料分析和金相檢測。  
以上是倒置明暗場金相顯微鏡的基本構(gòu)造及使用方法。請注意,在操作過程中需要遵循顯微鏡的安全操作規(guī)程,并根據(jù)具體設(shè)備的說明書進(jìn)行操作。
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