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顯微鏡技術(shù)的開發(fā)創(chuàng)新,加速了納米時(shí)代的進(jìn)程

更新時(shí)間:2007-10-30      點(diǎn)擊次數(shù):2797

2007-10-30    閱讀次數(shù):2 來源:上海蔡康光學(xué)儀器廠電子顯微鏡組   

顯微鏡技術(shù)的開發(fā)創(chuàng)新,加速了納米時(shí)代的進(jìn)程


劉玄慶    張康定    編寫


摘要:  本文簡(jiǎn)述了國(guó)內(nèi)外有關(guān)顯微鏡多年來的發(fā)展和近代*掃描探針顯微技術(shù)(SPM),包括掃描隧道顯微鏡(STM)及原子力顯微鏡(AFM)的技術(shù)理論及重點(diǎn)應(yīng)用的介紹。


關(guān)鍵詞:顯微分辨率;庫侖堵塞效應(yīng);量子隧道效應(yīng);針尖技術(shù);納米技術(shù)


Abstract:In this article we describe the development at many years age about the microcope in world and modern times advanced technic theory and emphasis application of Scanning Probe Microscopy(SPM),which include the Scanning tunneling microscope(STM)and Atomic Force Microscope(AFM) and so on.


一.            在“納米世紀(jì)"一書中將人類文明進(jìn)程劃分為:


(一)模糊時(shí)代:指工業(yè)革命之前的時(shí)代


(二)毫米時(shí)代:指工業(yè)革命到20世紀(jì)初


(三)人類跨入微米時(shí)代:指20世紀(jì)的兩次科學(xué)技術(shù)革命


*次:20世紀(jì)40年代開始的原子——電子技術(shù)革命;


第二次:20世紀(jì)70年代以來發(fā)生的信息革命。


(四)迎接納米時(shí)代:指21世紀(jì)將會(huì)以納米技術(shù)為代表的新興科學(xué)技術(shù)給人類帶來第三次工業(yè)革命。


納米技術(shù)正不斷滲透到現(xiàn)代科學(xué)技術(shù),如物理學(xué)、化學(xué)、電子學(xué)、材料學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、機(jī)械學(xué)等等領(lǐng)域。必將迅速地改變物質(zhì)產(chǎn)品的生產(chǎn)方式,提高產(chǎn)品的質(zhì)量,擴(kuò)寬它們的應(yīng)用范圍,從而導(dǎo)致人類社會(huì)發(fā)展巨大變化。


應(yīng)指出的是:在納米時(shí)代到來和納米時(shí)代中,納米電子學(xué)技術(shù)都將會(huì)起到zui關(guān)鍵的作用。例如20世紀(jì)80年代的1982年,IBM公司的賓尼(Gerd Binning)和羅雷爾(Heinrich Rohrer)成功研制出世界上*臺(tái)新型的掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope,簡(jiǎn)稱STM),使人類*次能夠直觀到物質(zhì)表面的單個(gè)原子及其排列狀態(tài),并能夠研究相關(guān)的物理、化學(xué)、生物等的性能,作用極大,應(yīng)用非常廣闊,涉及各行各業(yè)。為人類進(jìn)入納米世紀(jì),加快進(jìn)程,做出了巨大的貢獻(xiàn)。STM的發(fā)明被科學(xué)界*為20世紀(jì)80年代世界科技成就之一,并由于這一杰出貢獻(xiàn)賓尼( Binning)和羅雷爾(Rohrer)獲得了1986年諾貝爾物理獎(jiǎng)。


二.            從光學(xué)顯微鏡到電子顯微鏡的發(fā)展


觀察微小物體的歷史,是從放大鏡開始的,然后進(jìn)入顯微鏡時(shí)代。當(dāng)光學(xué)顯微鏡達(dá)到了分辨本領(lǐng)的極*,為了達(dá)到滿足人們觀察微觀世界的渴望時(shí),促成了電子顯微鏡的發(fā)明。


(一)。光學(xué)顯微鏡


光學(xué)顯微鏡的構(gòu)思是:直接觀察物體放大后的像,以代替用放大鏡觀察物體本身。因此需要有兩塊透鏡組合起來。


*塊透鏡,產(chǎn)生物體的放大像,稱為物像;第二塊透鏡,采用與*塊同類型的放大鏡,去看*塊透鏡放大后的像,稱為目鏡。


光學(xué)顯微鏡的進(jìn)步,正在于這二塊透鏡的組合。由于映入人眼的物體像是這二塊透鏡放大率之積,因而大幅度提高了放大能力。但如果想提高放大率,就需要增加透鏡的數(shù)目,那麼,將會(huì)遇到放大后像的畸變、彎曲、…….等稱為像差問題。*消除像差辦不到,但依靠近代的技術(shù)水平有可能使像差保持到很小的值。例如,現(xiàn)代較好的光學(xué)顯微鏡可達(dá)到1000—1500倍。但這個(gè)放大率已是光學(xué)顯微鏡放大本領(lǐng)的極限。這個(gè)結(jié)論是埃貝、海侖霍爾茨等人在十九世紀(jì)中葉通過研究而獲得的。埃貝等從理論證明:光學(xué)顯微鏡分辨本領(lǐng)界限的因素是——光線的波長(zhǎng),因?yàn)楣鈱W(xué)顯微鏡是利用光線來看物體的,為了要看到物體,物體的尺寸必須大于光的波長(zhǎng),這就是光學(xué)顯微鏡所以會(huì)有極限的原因,也稱為光的衍射效應(yīng)的影響,是無法克服的極限,這個(gè)極限在200毫微米左右。說明:


首先:人眼分辨本領(lǐng)大致為0.1毫米,即指兩點(diǎn)如分開0.1毫米左右,一般可清晰分辨。


有效放大率=人眼分辨本領(lǐng)值/顯微鏡分辨本領(lǐng)值


如果設(shè)顯微鏡分辨本領(lǐng)值為200毫微米(200×10-9


則有效放大率=0.1×10-3米/200×10-3×10-6米=500倍


通常把前面定義的有效放大率再提高一至二倍,可使操作更清晰。如放大1000—1500倍,則分辨本領(lǐng)為0.1毫米的肉眼,觀察0.2—0.3毫米相距的微米粒子徑像會(huì)毫不吃力了。






(二)電子顯微鏡的誕生


1.發(fā)現(xiàn)電子束的波長(zhǎng)遠(yuǎn)比可見光短


埃貝的理論和實(shí)驗(yàn)表明:利用波長(zhǎng)愈短的波,分辨本領(lǐng)就越高,指導(dǎo)了人們的思維。


進(jìn)入20年代后,法國(guó)科學(xué)家德布羅意發(fā)現(xiàn)電子流(電子束)也具有波動(dòng)的性質(zhì)。這種電子波的波長(zhǎng)遠(yuǎn)比光波的波長(zhǎng)短,也比X射線的波長(zhǎng)短。于是人們就想到能否用電子束來代替光波。即與現(xiàn)代電視機(jī)中陰極射線管(顯像管)發(fā)射出來的陰極射線相同的東西。經(jīng)分析試驗(yàn),電子束的運(yùn)動(dòng)速度與電壓的平方根成正比,所以電子束的波長(zhǎng)與電壓的平方根成反比。


例如:                                              























  


       長(zhǎng)


可見光


7,600—3,900


紫外線


  3,900—130


 


電子束


電壓100伏


      1.23


電壓10,000伏


      0.122


電壓100,000伏


      0.0387


注:波長(zhǎng)短正是電子顯微鏡得以打破光學(xué)顯微鏡分辨本領(lǐng)極限的關(guān)鍵所在。


2.發(fā)現(xiàn)電子束的波動(dòng)特性只與電子束的粒子性有,而與波動(dòng)性無關(guān)。


   電子是帶有負(fù)電荷的粒子,而且電子的質(zhì)量極小,幾乎不受引力的作用,運(yùn)動(dòng)僅受電子所處位置上的磁場(chǎng)和電場(chǎng)的強(qiáng)度支配而改變其前進(jìn)道路。


   1926年,德國(guó)科學(xué)家蒲許指出:“具有軸對(duì)稱性的磁場(chǎng)對(duì)電子束說來起著透鏡的作用。"蒲許從理論上設(shè)想了可利用磁場(chǎng)作為電子透鏡。即當(dāng)線圈中通以電流時(shí),線圈周圍將形成磁場(chǎng)。從線圈中心軸上某一點(diǎn)發(fā)出的電子,在磁場(chǎng)中沿螺旋線軌跡前進(jìn),然后會(huì)聚在中心軸的其他一點(diǎn)上。這對(duì)于電子說來,磁場(chǎng)顯示出透鏡作用,又稱為“磁透鏡"。今日的電子顯微鏡中的磁透鏡,在線圈外面包有熟鐵制的屏蔽外罩,線圈內(nèi)側(cè)裝入經(jīng)過高精度加工鈷鐵的小極靴,在小間隙(直徑3毫米)中局部形成具有軸對(duì)稱性的強(qiáng)磁場(chǎng),就成了一具短焦距透鏡。假設(shè)從透鏡到光源距離為a,透鏡到像距離為b,則光學(xué)透鏡一般性公式:1/a+1/b=1/f(f—焦距),對(duì)于磁透鏡也是成立的。這也是蒲許zui初導(dǎo)出的。


3.電子束成像原理和電子顯微鏡的構(gòu)造


(1)    電子束成像原理


①電子束是一種帶電的粒子流,空氣對(duì)于電子束也起著明顯的阻礙作用,為此必須使電子顯微鏡內(nèi)部保持真空。②電子束的波長(zhǎng)是隨加速電壓的波動(dòng)而不斷變動(dòng)的,因此,為保持電子束波長(zhǎng)的單一性,必須使電子顯微鏡的電壓波動(dòng)降低到十萬分之一以下。電壓的穩(wěn)定程度,將是獲得高分辨本領(lǐng)映象的一個(gè)重要因素。③電子束的成像,即電子像中的被檢體的濃淡差(或稱反襯度)與光學(xué)像的反襯度(亮度差或色度差)有本質(zhì)上的不同。在電子像中,不考慮吸收問題,因?yàn)殡娮?FONT color=#666666 size=3>顯微鏡用的電子束是單色的,與用單色光成像相仿,物質(zhì)與電子束之間不產(chǎn)生色的反應(yīng)。所以,在像中顯現(xiàn)出來的僅僅是濃淡而已。而電子濃淡的差別,是由于被檢物對(duì)電子產(chǎn)生“散射"而形成的,即入射電子與物質(zhì)原子碰撞后產(chǎn)生散射,被檢物的不同部位對(duì)電子來說有不同的散射度,就形成了電子像的濃淡。物理學(xué)上可知,電子束的散射度是由物體的厚度與密度之積,以及加速電壓的大小來決定的。







(2)    電子顯微鏡的構(gòu)造


電子顯微鏡本體構(gòu)造,原理上與光學(xué)顯微鏡相似。由三組透鏡構(gòu)成:即聚光鏡、物鏡和投影鏡(目鏡)組合而成。


聚光鏡——用來集聚攏電子束和調(diào)節(jié)電子束的程度。


  鏡——用來獲得被檢物的正確放大像,可說是顯微鏡的心臟。


投影鏡——起著把由物鏡放大的像進(jìn)行再次放大的作用,由它造成觀察用或攝影用的zui終像。


另外,(?。┙裉斓碾娮?FONT color=#666666 size=3>顯微鏡,多數(shù)都使用雙重聚光鏡。*鏡使電子束變得更為集中;第二鏡使電子束投射到樣品上。好處是在樣品表面只有直徑為幾個(gè)微米或更小的面積上被電子束照射到,在10萬倍直接放大率下,即便電子束的能量很大,而樣品的溫度上升仍然很小,從而可以避免對(duì)樣品的損傷。


     (ⅱ)在物鏡和投射鏡之間還裝有一個(gè)透鏡:“中間鏡"。調(diào)節(jié)中間鏡的勵(lì)磁電流,放大率便可在很大范圍內(nèi)(100倍到20萬倍之間連續(xù)地改變)。中間鏡的發(fā)明,使直接放大率的可變范圍擴(kuò)展到2000倍的程度。它還可以作為電子衍射照相機(jī),能獲得物體微小部分(例如僅僅在直徑1微米或更小范圍內(nèi))的顯微衍射像。這是因?yàn)樗苡迷?/FONT>顯微鏡外部調(diào)節(jié)的“視野限制光闌"調(diào)整光闌的大小,選出放大像的一部分。


所以在物鏡、投影鏡以外再配置中間鏡的所謂“三透鏡"系統(tǒng)電子顯微鏡 ,它不僅是一具電子顯微鏡,同時(shí)也是一具的電子衍射裝置。


其他尚需配置:


①鏡筒內(nèi)部必須保持高度真空的真空泵;


②聚光鏡前裝置能發(fā)射電子束的電子槍;


③通常用5-10萬伏高壓電源和能使電子束的波長(zhǎng)單一化的高壓電源穩(wěn)定裝置;


④電子透鏡用的勵(lì)磁電源的穩(wěn)定裝置;


⑤觀察用的熒光屏和裝有感光板的照相室;


⑥樣品室的單獨(dú)抽真空裝置;


⑦根據(jù)需要也可對(duì)樣品加裝冷卻裝置或加熱裝置。


         附圖:


         圖1.光學(xué)顯微鏡與電子顯微鏡的比較。


         圖2.電視電子顯微鏡示意圖。


4.電子顯微鏡的觀察極限


    按理論計(jì)算,電子顯微鏡分辨本領(lǐng)的極限在3埃左右。此值與2~3種金屬原子的大小處于同一數(shù)量級(jí),這就意味著用電子顯微鏡有可能直接看到原子。


    市場(chǎng)上出售的電子顯微鏡,根據(jù)其分辨本領(lǐng)可分為:超高分辨本領(lǐng)級(jí)、高分辨本領(lǐng)級(jí)、普通分辨本領(lǐng)級(jí)三等。


    超高分辨本領(lǐng)級(jí):達(dá)到原子水平的分辨本領(lǐng),可把原子一個(gè)一個(gè)分別開觀察。


    高分辨本領(lǐng)級(jí):只能把數(shù)個(gè)原子組成的集團(tuán)作為一個(gè)點(diǎn)來觀察。


普通分辨本領(lǐng)級(jí):大于20埃的分辨本領(lǐng)。


 












































 


超高分辨本領(lǐng)級(jí)


高分辨本領(lǐng)級(jí)


普通分辨本領(lǐng)級(jí)


分辨本領(lǐng)(埃)


<10(1nm)


10-20


20<


直接放大率


-200,000


-100,000


   -10,000


加速電壓(千伏)


100


80-100


50


聚光鏡


   雙聚光鏡


雙聚光鏡


   單聚光鏡


消像散裝置


   不可缺


    不可缺


   可缺


電源穩(wěn)定度


   <10-5


10-4-10-5


<10-4


真空度(毫米汞柱)


10-5


10-4-10-5


-5×10-4


 


實(shí)驗(yàn)室獲得電子顯微鏡分辨率本領(lǐng)理論極限值的意義:僅僅考慮電子束和透鏡系統(tǒng)而推算出來的。作為實(shí)驗(yàn)室必須考慮到鏡體的振動(dòng),樣品漂移的穩(wěn)定性,外部磁場(chǎng)的影響,樣品和透鏡光闌的“污染",合軸調(diào)整,消像散等許多因素。


5.電子顯微鏡的研制成功簡(jiǎn)歷:1932年德國(guó)柏林工科大學(xué)高壓實(shí)驗(yàn)室指導(dǎo)老師克諾爾與年輕的研究員魯斯卡(E.Ruska)以蒲許的理論基礎(chǔ)開始探索電子顯微鏡實(shí)現(xiàn)的可能性,用陰極射線示波器裝上了能起到透鏡作用的線圈,成功地得到了銅網(wǎng)的放大像——*次由電子束形成的電子像。當(dāng)時(shí)加速電壓為7萬伏,zui初放大率僅12倍。盡管放大率微不足道,但它雄辯地用實(shí)驗(yàn)證實(shí)了使用電子束和磁場(chǎng)透鏡可形成與光學(xué)像相同的電子像。從此,電子顯微鏡法便被正式確立了。


1933年科技工作者提出了用“極靴"來代替前述的長(zhǎng)線圈,從而制成了短焦距電子透鏡,放大率自然得到了提高。把一個(gè)短焦距透鏡作為物鏡,另一個(gè)短焦距透鏡作為投影鏡,組合制成了二極放大的電子顯微鏡,魯斯卡在1933年獲得了金屬箔和纖維的1萬倍的放大像。此時(shí),電子顯微鏡在放大率上已超過光學(xué)顯微鏡,但有決定意義的分辨本領(lǐng),還只剛剛達(dá)到光學(xué)顯微鏡水平。


1937年柏林工科大學(xué)的克勞塞和穆勒繼承了魯斯卡的工作,完成了超越光學(xué)顯微鏡性能的豐功偉業(yè),對(duì)細(xì)菌和膠體成功地拍了照,獲得了250埃的分辨本領(lǐng)。


同年法國(guó)西門子公司從柏林工科大學(xué)邀來了魯斯卡,請(qǐng)他專門從事電子顯微鏡的研制工作。1939年西門子公司制造的分辨本領(lǐng)達(dá)到了30埃的世界上zui早的實(shí)用電子顯微鏡進(jìn)入市場(chǎng)。


應(yīng)該說,從光學(xué)顯微鏡的發(fā)展到電子顯微鏡的誕生,德國(guó)的埃貝(蔡司光學(xué)工廠的創(chuàng)立者,*個(gè)看出光學(xué)顯微鏡極限和在1878年對(duì)未來顯微鏡的信念和推想的人)以及德國(guó)的科技工作者作出了很大貢獻(xiàn)。

1951年,美國(guó)賓夕法尼亞大學(xué)Erwinw.Muller(穆勒)發(fā)明了一種具有高放大倍數(shù),高分辨率的顯微鏡,它是在STM之前*種能夠在某些金屬表面上觀察到單個(gè)原子的顯微鏡,稱為場(chǎng)離子顯微鏡(Field Ion Microscope——FIM)。這種技術(shù)利用氣體原子成像原理獲得樣品表面上的原子圖像。通常,F(xiàn)IM設(shè)置在一個(gè)真空度為10-6Pa的高真空腔內(nèi),然后在真空腔內(nèi)充入2×10-2Pa的成像氣體He(氦)。氣體He在帶有+10KV左右的正偏壓的針夾樣品的末端附近被強(qiáng)電場(chǎng)電離后,受到電場(chǎng)的加速,并沿著電場(chǎng)的方向飛行到陰極熒光屏上形成針尖末端原子的分布圖象。它是觀察電子源本身的像,*不需要電子透鏡,所以是一種極為簡(jiǎn)單的顯微鏡,僅僅由陰極與陽極(環(huán)狀)構(gòu)成。能否拍攝出優(yōu)良照片的關(guān)鍵在于陰極的是否銳利。它的放大率可通過簡(jiǎn)單的算術(shù)運(yùn)算求得。陽極的孔半徑除以陰極的曲率半徑,其商即放大率。例如,當(dāng)陽極的孔半徑為100毫米,陰極的曲率半徑為10-4毫米時(shí),它的放大率是100萬倍。后由于場(chǎng)離子顯微鏡的陰極當(dāng)時(shí)創(chuàng)造過于麻煩,以及燈絲壽命太短的原因在電子顯微鏡中極少采用。但由于使用的燈絲可得到極細(xì)的電子束,樣品上的照射面積縮小,對(duì)樣品的影響也相應(yīng)減少,從而可獲得照片,給予人的啟發(fā)是可貴的。近年來,能夠直接觀察到針尖末端原子分布的場(chǎng)離子顯微鏡(FIM——Field Ion Microscope)成為分析STM針尖末端原子結(jié)構(gòu)的重要工具

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